【特長】

●膜厚計L-500用新開発プローブ

●渦電流式プローブ(非磁性金属素地用)

●アプリケーションメモリを50本まで保存

●L字型

【仕様】

●測定方式:渦電流式

●測定対象:非磁性金属上の絶縁被膜

●測定範囲:0 ~ 1200μmまたは47.0mils

●測定精度:50μm未満±1.0μm/50μm以上±2%

●対応器種:膜厚計 L-500