【特長】

●膜厚計L-500用新開発プローブ

●電磁式プローブ(磁性金属素地用)

●アプリケーションメモリを50本まで保存

●パイプ内面測定用

【仕様】

●測定方式:電磁誘導式

●測定対象:磁性金属上の非磁性被膜

●測定範囲:0 ~ 2500μmまたは99.0mils

●測定精度:15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3%

●対応器種:膜厚計 L-500