【特長】
●膜厚計L-500用新開発プローブ
●電磁式プローブ(磁性金属素地用)
●アプリケーションメモリを50本まで保存
●パイプ内面測定用
【仕様】
●測定方式:電磁誘導式
●測定対象:磁性金属上の非磁性被膜
●測定範囲:0 ~ 2500μmまたは99.0mils
●測定精度:15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3%
●対応器種:膜厚計 L-500
販売価格:259,000円(税込)
【特長】
●膜厚計L-500用新開発プローブ
●電磁式プローブ(磁性金属素地用)
●アプリケーションメモリを50本まで保存
●パイプ内面測定用
【仕様】
●測定方式:電磁誘導式
●測定対象:磁性金属上の非磁性被膜
●測定範囲:0 ~ 2500μmまたは99.0mils
●測定精度:15μm未満±0.3μm/15μm以上1000μm未満±2%/1000μm以上±3%
●対応器種:膜厚計 L-500
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